imtraumはデバイスの品質を評価できる手法を提供します。上の写真はSchloss Nymphenburg Kanalです。

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• 以前、ある学会に論文を投稿したらD判定でした。理由は二つ。一つ目が半導体でも10^19 (1/m^3)程度であり、計算では金属表面から数nmで10^28 (1/m^3)はあり得ないとのことでした。もう一つは計算結果が正しいかどうか検証データがない。今までに界面物性を計算する方法がなかったから新しく計算方法を示したのにと思っています。Pennstate時代のDr.Elizabeth Dickeyは金属表面から数μmの位置で10^26(1/m^3)を示していました。開発したソフトは金属表面から数nmでの界面物性で実験では求めるのが非常に難しいのです。少なくとも界面物性を数値で求めたものは見たことがない。ここで示すアプリケーションはそれが可能なのです。
• S社様の依頼で界面物性の計算を行いました。ドナー濃度が低かったので添加物の確認をして問題を解決しました。